Микроскоп Axio Scope A1 HAL 50, Carl Zeiss

Уникальная модульная система: доступен в 23 конфигурациях на основе комбинаций 5 вариантов верхней части микроскопа, 3 штативов и 2 колонн для исследования больших объектов (высота колонны 380 или 560 мм). Предназначен для работы и исследований в отраженном и проходящем свете.

• Методы исследования: СП, ТП, ФК, ДИК, поляризация, круговая поляризация (С-ДИК), люминесценция;
• новые источники освещения на основе светодиодов для проходящего и отраженного света (LED) и флуоресцентного анализа (FL-LED и Colibri) с большим временем эксплуатации (15000-30000 ч), удобные в настройке, позволяющие получать изображения без световых искажений;
• самонастраиваемая ртутная лампа, HXP 120, галогеновая лампа (12В, 50 Вт);
• общее увеличение 12,5-2500х;
• объективы: 1,25х-100х для отраженного и проходящего света: A-Plan, Achroplan, Plan-Neofluar;
• новый объектив N-Achroplan, рассчитанный для поля зрения 23 мм, идеальный по соотношению цена/ качество, изготовленный из экологически чистых материалов, не содержащих свинца. Новый объектив EC Epiplan, применение которого открывает дополнительные возможности для метода ДИК – один ДИК слайдер подходит сразу для трех объективов с различным увеличением 5х, 10х, 20х;
• система дополнительной смены увеличения "Оптовар" (1,6х; 2,5х);
• насадки: бинокулярная, бинокулярная насадка с фото / видеовыходом; угол наклона окулярных трубок -30º, 20º, 15º (эргономические насадки);
• револьверное устройство для крепления 6 объективов в различном исполнении: 3 отверстия для ДИК слайдеров, 6 отверстий для ДИК слайдеров;
• 6- или 4-позиционное револьверное устройство смены светоделительных модулей, 2-позиционный слайдер для смены рефлекторных модулей;
• предметные столики: механический, вращающийся (360º), моторизованный, а так же столики со специальным твердым покрытием, не позволяющим появляться царапинам на его поверхности;
• уникальный разработанный компанией Carl Zeiss метод C-ДИК (с круговой поляризацией), позволяющий получать дополнительную информацию об объекте;
• реализован метод ПласДИК (один из методов «рельефного» контрастирования);
• боковой порт для камеры, устанавливаемый в проходящем свете вместо револьверного устройства смены рефлекторных модулей.